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        Test items檢測項目

        X射線粉末衍射儀
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        X射線粉末衍射儀

        儀器照片

        儀器名稱

        X射線衍射儀

        儀器型號

        日本理學 SmartLab 3KW

        儀器簡介

        高精度的測角儀可以保證在全譜范圍內的每一個衍射峰的測量峰位和標準峰位的誤差不超過0.01度,先進的一維陣列探測器可以提高強度150倍,不僅大幅提高設備的使用效率, 而且大幅提高了設備的探測靈敏度。

         

        技術參數

            測量精度:±0.0001°;                       測角儀半徑200 mm;

            很小步長:0.0001° ;                             角度范圍2θ):-110168°;

            很大輸出:3 KW;                            穩定性:±0.01%; 

            管電壓:2060 kV(1kV/1step);         管電流1060 mA。

        儀器功能

                X射線衍射儀可以對樣品進行物相定性和部分樣品的定量分析,可以測定精確的晶胞參數、簡單晶體的晶體結構、樣品的結晶度、微晶的粒度。利用相應附件可以測定納米粒度、薄膜厚度;可以進行斑點等小區域樣品進行分析;

        在線測試系統


        物相分析檢測案例

        樣品要求

            粉末:樣品須干燥處理,粒度小于300目,質量不少于0.1g;

            塊體: 需加工出一平整的表面,尺寸約為20mm×20mm×2mm。

         

         

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