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        Test items檢測項目

        場發射透射電子顯微鏡
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        場發射透射電子顯微鏡

        儀器照片

        儀器名稱

        場發射透射電子顯微

        儀器型號

        Tecnai G2 F20

        生產廠家

        美國FEI公司

        儀器簡介

                Tecnai G2 F20是一個真正多功能、多用戶環境的200 kV工具。它以其將各種透射電鏡技術(包括TEM、EFTEM、Lorentz透鏡、STEM、EDX/EELS頻譜成像等)方便靈活地有機組合, 形成強大的分析功能, 而在同類型儀器中獨占鰲頭。任務導向型用戶界面和自動采集數據功能, 使用戶從必須首先成為電鏡專家才能獲得理想結果的壓力中解放出來, 使他們專注于自己的研究工作。Tecnai G2完全一體化概念允許在不同的操作模式和數據采集技術之間快速切換, 切換過程中系統自動調回所有相關的操作設置。 

        技術參數

            加速電壓:200 kV                                    很大放大倍數:105萬倍

         點分辨率:0.24 nm                                   線分辨率:0.14 nm

             STEM (HAADF)分辨率:0.19 nm              電子束能量色散:<0.7 eV

         很大束流:>100 nA                                   1 nm束斑很大束流:>0.5 nA

         樣品很大傾斜角:±40°                              能量分辨率:~130 eV (Mn K)

         EDAX能譜儀 (EDS)5B~92U

        設備功能 

          主要用于無機材料微結構與微區組成的分析和研究,儀器的功能包括:

          1、電子衍射:選區衍射、微束衍射、會聚束衍射

          2、成像:衍襯像(明、暗場像)、高分辨像 (HREM)、掃描透射像(明場像)

          3、微區成分:EELSEDS能譜的點、線和面分析

          4、微區化學:EELS的元素價態、化學鍵、配位結構和電子結構分析

        應用領域

        材料范圍:除磁性材料之外的任何無機材料,包括粉體、薄膜和塊材;不適用于有機和生物材料

        表征范圍:微觀形貌、顆粒尺寸、微區組成、元素分布、元素價態和化學鍵、晶體結構、相組成、結構缺陷、晶界結構和組成等

        檢測案例一

        (形貌)

        檢測案例二

        (高分辨)


        檢測案例三

        (Mapping)

        送樣要求

        建議提供文獻圖片或者以前做過的圖片,如果沒有,檢測要求需詳細填寫。樣品可提供20張左右圖片:即篩選出三個比較好的區域,每個區域提供3-4張不同放大倍數滿足測試要求的圖片,對于找不到符合測試要求的區域的樣品,我們將會多拍一些區域以證明樣品的真實情況!寄送樣品質量大20 mg。

         


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