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        Test items檢測項目

        X射線熒光光譜
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        X射線熒光光譜儀

        儀器照片

        儀器名稱

        X射線熒光光譜儀

        儀器型號

        Panalytical Axios

        生產廠家

        荷蘭

        技術參數

            分析范圍O(8)-U(92);含量范圍:PPM-100%

            SST-mAX無衰減X光管及固態高壓發生器功率4KW,60KW,160mA

            DOPS直接光學定位測角儀精確率0.0001o

            晶體LiF200;PX-1;PE002,Ge111;LiF220;掃描方式:順序掃描

            探測器:流氣式3000Kcps;閃爍式1500 Kcps

        應用范圍

            用于粉末,塊狀,粉末壓片,熔片,金屬非金屬樣品,空氣濾膜等樣品元素成分的定性定量分析以及無標樣半定量分析,無損分析。

        主要功能

            X射線熒光是原子內產生變化所致的現象。內層電子在足夠能量的X射線照射下脫離原子的束縛,釋放出來,電子的逐放會導致該電子可曾出現相應當電子空位。這時處于高能量電子殼層的電子會躍遷到該低能量電子殼層來填補相應當電子空位。由于不同電子殼層之間存在能量差距,這些能量上的差以二次X射線的形式釋放出來,不同元素所釋放出來的二次X射線具有特定的能量特性特征波長(定性分析基礎);依據譜線強度與元素含量的比例關系進行定量分析。

        半定量分析


        樣品要求

            寄送樣品須干燥處理;固體:尺寸要求(mm) ×寬:10×10 mm200×200 mm  <100 mm;粉末:樣品均勻、粒度>200,送樣質量大于1 g。

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